基于偏微分方程的特征理論，提出了一種求解雙曲型偏微分方程的近似方法。當(dāng)問(wèn)題簡(jiǎn)單時(shí)，用該方法可以得到解析解或近似解析解；當(dāng)問(wèn)題復(fù)雜時(shí)，也可以得到高精度的數(shù)值解。此外，該方法還可用于定性分析和初始條件，特

基于偏微分方程的特征理論，提出了一種求解雙曲型偏微分方程的近似方法。當(dāng)問(wèn)題簡(jiǎn)單時(shí)，用該方法可以得到解析解或近似解析解；當(dāng)問(wèn)題復(fù)雜時(shí)，也可以得到高精度的數(shù)值解。此外，該方法還可用于定性分析和初始條件，特別是雙曲問(wèn)題。這對(duì)于設(shè)計(jì)求解雙曲型微分方程的其他數(shù)值方法具有重要意義。特征線(xiàn)法早在19世紀(jì)末就出現(xiàn)了，上世紀(jì)30-40年代許多問(wèn)題都是手工解決的，電子計(jì)算機(jī)出現(xiàn)后，這種方法更加完善，應(yīng)用也更加廣泛。

什么時(shí)候能用特征線(xiàn)法求解偏微分方程？

特征值法是數(shù)學(xué)中求解常系數(shù)線(xiàn)性微分方程的一種通用方法。特征值法也可以通過(guò)序列的遞推公式（即差分方程，必須是線(xiàn)性的）求出通項(xiàng)公式，其本質(zhì)與微分方程相同。例如，它被稱(chēng)為二階齊次線(xiàn)性差分方程：加權(quán)特征方程。

特征值法是求解常系數(shù)線(xiàn)性微分方程的通用方法。

特征值法還可以通過(guò)序列的遞推公式（即差分方程，必須是線(xiàn)性的）來(lái)求通項(xiàng)公式，其本質(zhì)與微分方程相同。

稱(chēng)為二階齊次線(xiàn)性差分方程：加權(quán)特征方程。

特征根法的原理？

特征譜線(xiàn)

物質(zhì)在高溫下發(fā)射光譜的亮線(xiàn)與在低溫下吸收光譜的暗線(xiàn)一一對(duì)應(yīng)，因此元素的亮線(xiàn)光譜和吸收光譜是元素的特征，這就是所謂的特征譜線(xiàn)。

特征譜線(xiàn)怎么產(chǎn)生？

平面線(xiàn)和緯線(xiàn)圓都是回轉(zhuǎn)體表面的特征線(xiàn)，反映了回轉(zhuǎn)體形狀的最基本特征。平面線(xiàn)法和緯線(xiàn)圓法是零件表面取點(diǎn)的常用方法。緯紗圓法是以回轉(zhuǎn)面上的緯紗圓為輔助線(xiàn)的一種方法。這是一種通用的方法，適用于所有旋轉(zhuǎn)曲面的圖形步驟摘要：

1。先通過(guò)已知點(diǎn)的投影做輔助線(xiàn)的投影，然后再做輔助線(xiàn)的其余投影；

2。根據(jù)該點(diǎn)在直線(xiàn)上的投影特性，進(jìn)行該點(diǎn)的其余投影；

3。判斷是否可見(jiàn)。